A16 - Zaawansowana platforma badań składu chemicznego materiałów - ZAPROSZENIE DO SZACOWANIA WARTOŚCI ZAMÓWIENIA
Nabór ofert jest otwarty.
Przypomnienia o terminie
To osobne powiadomienia e-mail. Samo „Zapisz” ich nie włącza.
Zamawiający nie opublikował: wartości szacunkowej, wadium.
Kluczowe informacje
- 1
TerminTermin składania ofert upływa 10 sierpnia 2026 roku o godzinie 23:59.
- 2
ZakresPrzedmiot zamówienia: A16 - Zaawansowana platforma badań składu chemicznego materiałów - ZAPROSZENIE DO SZACOWANIA WARTOŚCI ZAMÓWIENIA.
Kontekst Atlasu
- W ostatnich 3 latach Atlas powiązał z postępowaniami tego zamawiającego 3 orzeczenia KIO.
Na podstawie ogłoszenia · Zawsze weryfikuj z oryginalnym ogłoszeniem
Przebieg postępowania
1 wpisWszystkie ogłoszenia powiązane z tym postępowaniem, od pierwszego komunikatu do ostatniej aktualizacji lub wyniku.
- Zapytanie ofertowe (Baza Konkurencyjności)Bieżące
27 lipca 2026
Termin ofert: 10 sierpnia 2026 23:59
Ogłoszenie
Pełna treść ogłoszenia podzielona na sekcje. Użyj wyszukiwania lub nawigacji do szybkiego przejścia.
1Treść ogłoszeniaSekcja 1
A16 Przedmiotem szacowania wartości zamówienia jest „Zaawansowana platforma badań składu chemicznego materiałów, ED XRF”, o minimalnych wymaganiach technicznych 1). Kompaktowy spektrometr fluorescencji rentgenowskiej z dyspersją energii do analizy pierwiastkowej w zakresie co najmniej Na – U (lub szerszym) 1.1. system musi umożliwiać analizę próbek przynajmniej: proszki (luźne i prasowane), próbki stapiane (tzw. perły, fused beads), metale, ciecze, folie i zawiesiny, 1.2. System musi umożliwiać poprawę czułości analizy pierwiastków lekkich przy użyciu co najmniej jednego z rozwiązań: – atmosfera helu, – próżnia, – lub równoważna technologia. 1.3 System musi posiadać układ optymalizacji wiązki (np. filtry spektralne lub równoważne rozwiązanie technologiczne). 1.4. spektrometr musi być wyposażony w kamerę kolorową z oświetleniem do inspekcji wizualnej, 1.5. system musi być wyposażony w detektor o rozdzielczości nie gorszej niż 150 eV @ 5.9 keV (podlega ocenie punktowej) 1.6. system detekcyjny musi zapewniać parametry umożliwiające prowadzenie analizy jakościowej i ilościowej oraz odpowiednią wydajność zliczania sygnału (minimum 5000 kcps), potwierdzoną w dokumentacji producenta (podlega ocenie punktowej). 1.7. chłodzenie ma być realizowane powietrzem lub rozwiązaniem równoważnym niewymagającym dodatkowej infrastruktury technicznej po stronie Zamawiającego, 1.8. źródło promieniowania o napięciu maksymalnym co najmniej 50 kV, 1.9. system musi być wyposażony w automatyczny podajnik próbek o pojemności minimum 10 pozycji; dopuszcza się dowolną konstrukcję podajnika (np. karuzelowy, liniowy, XYZ); system musi zapewniać poprawę powtarzalności pomiarów próbek niejednorodnych (np. poprzez obrót próbki lub rozwiązanie równoważne) 1.10. wyposażenie dodatkowe minimum 500 szt. materiałów eksploatacyjnych (kubki, folie lub równoważne), zestaw do przeglądu po 12 miesiącach pracy, 5 tac 4-pozycyjnych lub równoważne rozwiązanie zapewniające min. 20 pozycji próbek 1.11. urządzenie musi posiadać wbudowaną jednostkę sterującą z zewnętrznymi połączeniami USB, HDMI oraz DisplayPort do drukarki, myszy, klawiatury, dodatkowego monitora i pamięci flash, 1.12. urządzenie musi być wyposażone w jednostkę kontrolną z monitorem oraz oprogramowanie do analizy jakościowej, ilościowej oraz bezwzorcowej. 2). Stapiarka elektryczna jedno- lub wielopozycyjna o parametrach nie gorszych niż: 2.1. stapiarka ma służyć do techniki XRF (dyski szklane) oraz przygotowania roztworów do analiz AA i ICP, 2.2. zakres temperatury pracy co najmniej do 1100°C; ogrzewanie elektryczne, 2.3. system musi zapewniać kontrolę i monitorowanie temperatury komory grzewczej oraz stabilność procesu stapiania 2.4. system musi zapewniać powtarzalność i stabilność procesu stapiania odpowiednią do zastosowań laboratoryjnych 2.5. możliwość zapisu i odtwarzania programów stapiania (min. 5 programów), 2.6. sterowanie poprzez panel dotykowy lub równoważny interfejs, 2.7. w zestawie wraz z urządzeniem mają być dostarczone przynajmniej: tygle i foremki do stapiania (np. Pt/Au lub równoważne materiały przeznaczone do techniki XRF), topnik: 5kg, zestaw do polerowania – 1 kpl. lub równoważne wyposażenie umożliwiające pełne uruchomienie systemu 3). Dostawa i szkolenie Dostawa i szkolenie w siedzibie Zamawiającego (min. 2 dni) Przedmiot zamówienia realizowany będzie w ramach projektu „Śląskie Międzywydziałowe Laboratorium Technologii Lotniczych” (nr umowy FESL.01.01-IZ.01-073C/23) w ramach Programu Fundusze Europejskie dla Śląskiego 2021-2027, Priorytet FESL.01 „ Fundusze Europejskie na inteligentny rozwój”, Działanie FESL.01.01 „B+R - organizacje badawcze”
Analiza rynku
Typowy budżet zamawiającego w tej kategorii CPV, podobne postępowania oraz historia zamawiającego i rynek lokalny.
Typowy budżet w tej kategorii CPV
W ostatnim roku nie znaleźliśmy wystarczającej liczby podobnych postępowań z podaną wartością szacunkową, żeby policzyć statystyki. Zobacz wszystkie przetargi w tej kategorii →
Podobne przetargi
Ta sama kategoria CPV, ostatni rok
Historia zamawiającego
Najnowsze postępowania tego podmiotu
Powiązane lokalnie
Aktywne w tym samym rynku lokalnym
Dokumenty i komunikacja
Platforma składania ofert, linki do dokumentacji i dane kontaktowe zamawiającego.
Platforma zakupowa
Miejsce składania ofert lub komunikacji z zamawiającym.
Źródło danych: Baza Konkurencyjności — Ministerstwo Funduszy i Polityki Regionalnej
Dane pozyskane z publicznego serwisu Bazy Konkurencyjności i przetworzone przez Atlas Przetargów (normalizacja, indeksowanie, agregacja). Stan na: 28.07.2026. Zobacz oryginalne ogłoszenie w Bazie Konkurencyjności